KRD30系列離心式恒加速度試驗(yàn)機(jī)(箱式)用于評估元器件、設(shè)備及其他電工電子產(chǎn)品在恒加速度環(huán)境(重力除外)下的結(jié)構(gòu)適應(yīng)性和性能是否良好,并獲得試品的電參數(shù)。
最大載荷(kg)/工位:20×2
加速度(g):1~100
試品允許高度(mm):300
安裝半徑(mm):500
加速度精度(%):≤3
控制方式:全閉環(huán)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)(遠(yuǎn)程)自動控制+手動控制
標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-810F IEC68-2-7 MIL-STD-202 MIL-STD-750 MIL-STD-883
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